納米測試技術(shù)  從出產(chǎn)制造的趨勢看，每十年要求容許誤差降低1／3，因此要求丈量具有越來越高的精度，并可溯源到國際尺度(ISO)。 

丈量尺寸繼承向著兩個(gè)極端發(fā)展      所謂兩個(gè)極端就是指相對于現(xiàn)在丈量尺寸的大尺寸和小尺寸。    

 

 

近年來，因?yàn)閲窠?jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和迫切需要，使得良多方面的出產(chǎn)和工程中測試的要求超過了我們所能測試的范圍，如飛機(jī)形狀的測量、大型機(jī)械樞紐部件丈量、高層建筑電梯導(dǎo)軌的準(zhǔn)直測量、油罐車的現(xiàn)場校準(zhǔn)等都要求能進(jìn)行大尺寸測量；微電子技術(shù)、生物技術(shù)的快速發(fā)展，探索物質(zhì)微觀世界的需求，測量精度的不斷進(jìn)步，又要求進(jìn)行微米、納米測試。通常尺寸的測量已被廣為留意，也開發(fā)了多種多樣的測試方法。當(dāng)然，納米測量也多種多樣，有光干涉測量儀、量子干涉儀、電容測微儀、X射線干涉儀、頻率跟蹤式法珀尺度量具、掃描電子顯微鏡(SEM)、掃描地道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、分子測量機(jī)等。      

 

大尺寸的測量方法  如工程大地測量方法是指將大地測量的某些原理和方法移植和改進(jìn)到機(jī)械工程丈量中，產(chǎn)生新的測量方法，還有其它一些測量大尺寸的方法，如激光跟蹤干涉三維尺寸測量系統(tǒng)。